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角分辨散射測量儀ALBATROSS
時間:2017-02-07 10:45來源:訊技光電作者: 營銷部點擊:打印
左圖:角分辨光散射測量儀ALBATROSS;右圖:532 nm濾光片在不同波長下的ARS分布。
 
系統簡介
 
ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一個大型的測量樣本反射光,透射光,以及散射光分布的實驗室測量系統。其特點是對角度的靈敏度高,并且該系統可以測量三維空間中的散射分布。被測樣本包含光學和非光學表面以及其他光學材料和光學元件。其光源系統為變頻OPO激光,也可測量光散射的光譜特性。
 
特征及技術參數
 
-  可測量參數:散射光(角分辨散射ARS,雙向反射分布BRDF,
-  雙向透射分布BTDF,散射損耗),θ-2θ測量,反射,透射。(3D)
-  入射光與探測器可共面或異面。
-  入射角,散射角(方位角和極角)以及光源的偏振態均可調整。
-  可對樣品進行掃描。
-  動態范圍: 13個數量級。
-  最低ARS級別:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。
-  對粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。
-  波長范圍:225 nm 至 1750 nm (光譜帶寬<0.05 nm)。
-  樣本規格:最大尺寸直徑700mm。
-  方便操作的測量及分析軟件。
-  可分析值: 粗糙度,PSD等。
 
應用
 
對表面,薄膜以及材料性質進行表征和分析
-  產品質量檢測。
-  光學性能分析。
-  粗糙度分析。
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