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干涉條紋研究
時間:2019-04-22 09:38來源:訊技光電作者: 技術部點擊:打印
干涉測量是用于精確測量中最廣泛應用的技術之一。通過觀察和研究條紋圖案,可以判斷表面形狀質量或關于光譜帶寬的儀表信息。利用VirtualLab Fusion中非序列場追跡技術,可以輕松地設置和分析光學干涉儀。在這里提出兩個經典的基于邁克爾遜干涉儀的例子:一個高質量相干激光光源,另一個寬帶白光光源。
 
基于激光的邁克爾遜干涉儀
 
 
借助VirtualLab Fusion中非序列追跡技術建立了該邁克爾遜干涉儀,并展示了不同配置中的干涉條紋。
 
白光邁克爾遜干涉儀
 
 
模擬使用氙氣燈作為光源的邁克爾遜干涉儀,充分考慮了光源的光譜特性(有限的相干長度)。
 
了解更多信息,請發送郵件至:support@infotek.com.cn / support@infocrops.com
網址:http://www.xingyewh.com / http://www.honglun-seminary.com
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